• Главная
  • rss-лента сайта solo-project.com


TSOM микроскопия для контроля качества

Новая технология микроскопии под названием TSOM позволяет рассматривать нанообъекты на поверхности наночипов. Раньше их можно было увидеть только в двумерном виде, теперь можно видеть форму, размер и точно оценивать различия между объектами. Это незаменимо в технологии для контроля качества.

Полупроводниковые чипы нового поколения содержат в себе трехмерные элементы, которые должны идеально соответствовать заданным формам и габаритам. Применяемые раньше методы микроскопии : электронная, атомно-силовая могут обеспечивать точный контроль габаритов, но они слишком медленные и есть риск поломки хрупких чипов. Оптическая микроскопия бесполезна в нанотехнологиях, так как чип меньше длины волны видимого света. Возможно, когда-нибудь появится и видео техника , способная снимать наночипы в реальном времени с помощью своего механизма увеличения.

TSOM основана на фотографировании объекта оптическим микроскопом с разных сторон и дальнейшей компьютерной обработке снимков, измерение градиента яркости дает трехмерное изображение объекта величиной 10 нм и, впоследствии размер будет уменьшаться.


На Земле насчитывается огромное количество самых различных электрических устройств и приборов, которые играют большую роль в жизни современного человека и общества в целом.

читать далее

Сегодня радиоэлектроника развивается с большим успехом.

читать далее

В наше время высоких технологий многие люди до сих пор мечтают о том, чтобы купить радиоприемник.

читать далее