• Главная
  • rss-лента сайта solo-project.com


TSOM микроскопия для контроля качества

Новая технология микроскопии под названием TSOM позволяет рассматривать нанообъекты на поверхности наночипов. Раньше их можно было увидеть только в двумерном виде, теперь можно видеть форму, размер и точно оценивать различия между объектами. Это незаменимо в технологии для контроля качества.

Полупроводниковые чипы нового поколения содержат в себе трехмерные элементы, которые должны идеально соответствовать заданным формам и габаритам. Применяемые раньше методы микроскопии : электронная, атомно-силовая могут обеспечивать точный контроль габаритов, но они слишком медленные и есть риск поломки хрупких чипов. Оптическая микроскопия бесполезна в нанотехнологиях, так как чип меньше длины волны видимого света. Возможно, когда-нибудь появится и видео техника , способная снимать наночипы в реальном времени с помощью своего механизма увеличения.

TSOM основана на фотографировании объекта оптическим микроскопом с разных сторон и дальнейшей компьютерной обработке снимков, измерение градиента яркости дает трехмерное изображение объекта величиной 10 нм и, впоследствии размер будет уменьшаться.


В последнее время все более актуальным становится минимализм, не обошла стороной эта тенденция и радиоэлектронику.

читать далее

Компания International Rectifier "порадовала" новыми IGBT транзисторами для авто – AUIRGS4062D1 и AUIRGSL4062D1, которые имеют встроенные диоды.

читать далее

Радиолампа – это электровакуумное устройство, работающее посредством манипуляций с интенсивностью и частотой электронов, передвигающихся в разреженном газе или полном отсутствии в

читать далее